產品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學輪廓儀
主動隔振臺ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯用系統
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Lumina光學表面缺陷分析儀
納米團簇束流沉積系統
Profilm 3D經濟三維光學輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
article
相關文章
為了滿足現代材料研究的挑戰，Swift開發了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實現原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多重測試模式，實現原位復合載荷測試薄膜及細絲力學實驗。
更新時間：2025-09-25
產品型號：
瀏覽量：4797
當前位置：
