Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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非接觸式輪廓儀優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸,保護(hù)了測量裝置,同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采...
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Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機(jī)器可測樣。
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iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊,用戶友好的納米機(jī)械測量系統(tǒng),設(shè)計(jì)用于硬涂層,薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確,可重復(fù)的納米級機(jī)械測試,包括壓痕,硬度,劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
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Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料,又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測,其...
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Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確,靈活,使用方便的納米級機(jī)械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個(gè)數(shù)量級的形變測量。 可測量聚合...
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SPRm200 表面等離子共振顯微鏡工作原理基于表面等離子共振(SPR)技術(shù)。是世界上先將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀??梢酝瑫r(shí)得到細(xì)胞原位明場成像、SPR成像、及S...
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與X射線用氮化硅窗口類似,透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小,適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
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桌面型多場輔助化學(xué)機(jī)械拋光設(shè)備,最大兼容4英寸樣品,可定制特殊尺寸拋光頭。3-8氣路通道。使用專門結(jié)構(gòu)“兩點(diǎn)波珠定位”法蘭設(shè)計(jì)。定位準(zhǔn)確,拆裝方便。 保持環(huán)/樣品獨(dú)立氣壓控制,可實(shí)現(xiàn)多段施壓。
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原子層沉積系統(tǒng)鍍膜機(jī)經(jīng)濟(jì)型科研沉積平臺 穩(wěn)定成膜、均勻可靠、面向材料研究便捷、穩(wěn)定、再現(xiàn)性高
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緊湊型臺式光刻系統(tǒng)重新定義無掩模光刻技術(shù)LITHO MASKLESS 是一款緊湊型臺式光刻系統(tǒng)利用基于 UV LED 的 DLP 引擎實(shí)現(xiàn)無掩模圖案化。設(shè)計(jì)簡潔,精準(zhǔn)它將微加工技術(shù)從潔凈室和任何研究或...
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SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動(dòng)晶圓鍵合設(shè)備,具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)保證鍵合的壓盤相對水平,優(yōu)良的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計(jì),方便簡潔的菜單編輯和設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控以及安全保...
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自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機(jī)鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域,自由曲面三維面型檢測儀,能夠非接觸測量光學(xué)鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù),開展三維輪廓分析和三...
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晶圓翹曲應(yīng)力測量儀具備三維翹曲(平整度)及薄膜應(yīng)力的檢測功能,適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
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Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
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